受激发射损耗(STED)显微镜原理

摘要受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中两束激光—一束正常一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应与通常的显微镜技术(例如宽视场显微镜)相比后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应在焦点区域采用等效孔径。任务说明多重光源螺旋相位板探测器插件参数运行为了实现焦点区域的z-扫描可以执行参数运行。使用此工具用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息请参阅Usage of the Parameter Run Document非时序建模将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时将对活动光路进行初步分析通过所谓的Light Path Finder。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。Channel Setting for Non-Sequential Tracing总结 – 组件…系统观感发射损耗激光光在焦点区域中的传播表明来自损耗激光的光会产生环形光斑其中中心孔径小于发射激光的焦斑。由于两个光束在目标上的荧光过程中竞争这导致信号激光的有效光束尺寸更小。3D STED 轮廓注意由于这个简化的例子不包括实际的荧光效应我们为了可视化目的对两个激光束进行了归一化。受激发射损耗效应为了近似饱和损耗的影响我们在焦点位置对发射激光的结果应用了孔径效应。孔径的参数大致基于损耗激光的焦点轮廓600nm 直径25% 边缘。通过系统传播回探测器平面表明由于这个过程光斑变得非常小。VirtualLab Fusion 技术文件信息进一步阅读• Simulation of Multiple Light Source in VLF• Focusing of Gaussian-Laguerre Wave for STED Microscopy市场图片